デジタル部分放電総合分析装置

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インテリジェント検出の新時代の扉を開きます! MEJFD-W1S は、32- ビット ハードコア- チップを搭載した高解像度タッチスクリーンの操作に革命をもたらします。-マルチ-バンドフィルタリングとタイムウィンドウ干渉抑制を備え、部分放電信号を正確に捕捉して、より効率的なテストとより信頼性の高いデータを実現します。
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デジタル部分放電検出器
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説明

デジタル部分放電総合分析装置

 

製品紹介

 

MEJFD-W1S 部分放電試験器は、当社が開発した新しいデジタル部分放電試験器です。以前のモデルの長所を維持しながら、サイズを縮小し、パフォーマンスをさらに最適化しました。従来のオシロスコープチューブと物理的なノブ操作は 10.1 インチのタッチスクリーンに置き換えられ、機能性、使いやすさ、信頼性が向上しました。

この機器は、タッチスクリーン操作と組み合わせた 32- ビット高性能-マイクロコントローラー回路を利用しています。これにより、動作寿命が延びるだけでなく、次の機能も提供されます。ワンタッチ自動校正。-構成可能な高電圧テスト分圧比。-テストデータをアップロードするためのシリアルポート通信。この機器は、高い検出感度、試験片にわたる幅広い適用性、増幅システムの広いダイナミックレンジ、複数の周波数帯域の組み合わせ (9 種類)、および強力な抗干渉機能を備えています。校正パルス発生器や入力ユニットと組み合わせて使用​​することで、実用的な部分放電試験器として電力会社、メーカー、研究機関などに広く採用されています。

 

製品パラメータ(仕様)

 

  1. テスト可能なサンプルの等価静電容量範囲は 6pF ~ 250μF です。
  2. 測定範囲: 0.1 pC - 10000 nC
  3. チャンネル数: シングルチャンネル
  4. 検出感度と許容電流(表1参照)

入力ユニット

シリアルナンバー

コンデンサの調整範囲

感度 (pC)

(アンバランス回路)

許容電流実効値

アンバランス回路

バランス回路

1

0-25-100pF

0.02

30mA

0.25A

2

25-100-400pF

0.04

50mA

0.5A

3

100-400-1500pF

0.06

120mA

1A

4

400-1500-6000pF

0.1

0.25A

2A

5

1500-6000-25000pF

0.2

0.5A

4A

6

0.006-0.025-0.1μF

0.3

1A

8A

7

0.025-0.1-0.4μF

0.5

2A

15A

8

0.1-0.4-1.5μF

1

4A

30A

9

0.4-1.5-6.0μF

1.5

8A

60A

10

1.5-6.0-25μF

2.5

15A

120A

11

6.0-25-60μF

5

25A

200A

12

25-60-250μF

10

50A

300A

7R

抵抗

0.5

2A

15A

表1. 入力ユニットの検出感度と許容電流値

 

5. 楕円スキャンタイムベース

(1) 周波数

50/60、100、150、200、400Hz

(2) 回転

30 度刻みで、最大 120 度まで回転できます。

(3) 作業方法

楕円 - 正弦波 - 直線

6. 表示部

10.1インチの静電容量式タッチスクリーンを採用しています。

7. アンプ

(1) 3dB 低周波端周波数 fL

10、20、40kHz(選択可能)

(2) 3dB 高域-周波数終了周波数 fH

80、200、300kHz 選択可能

(3) ゲイン調整

coarse adjustment has 6 levels with a gain difference of 20±1dB between levels; fine adjustment range is >20dB。

(4) 正負のインパルス応答の非対称性

<1dB

8. 時間枠

(1) ウィンドウ幅

調整可能、50Hz で 5 度 -170 度

(2) 窓の位置

各ウィンドウは 0 度から 170 度まで回転できます。

(3) 2 つの時間ウィンドウは、個別にまたは同時に開くことができます。

9. パルスピーク表示

タッチスクリーンディスプレイ

小数点以下 1 桁 (10 pC 以上) または小数点以下 2 桁 (10 pC 未満) を示し、誤差は ±3% (フルスケール) です。

10. テスト電圧表示

(1) 範囲

150kV

(2) 入力インピーダンス

>1MΩ

(3) 表示

タッチスクリーンディスプレイ、小数点第1位まで表示します。

(4) エラー

±1%

11. 試験周波数表示

エラー

±1%以内

12. ゼロ-標準システム

ゼロマークはすべての楕円スキャン周波数と一致します。

13. 構造

(1) 外形寸法図

370mm(幅)、460mm(奥行き)、215mm(高さ)

(2) 重量

約12.5kg

 

製品の特長と用途

 

I. 優れた操作性

1. アップグレードされたインタラクション: 10.1 インチの静電容量式タッチスクリーンを備え、従来のブラウン管ディスプレイを物理的なノブに置き換えます。直観的なインターフェイスと柔軟な操作により、操作の寿命を延ばしながら学習曲線を大幅に短縮します。

2. インテリジェントな便利機能: ワンタッチの自動校正をサポートし、複雑な手動計算を排除します。- JZF- タイプの校正パルス発生器を介して既知の電荷を注入した後、機器は自動的に校正を行い、試験片の放電量を直接表示します。シリアル通信機能を備えているため、テストデータを他のデバイスにシームレスにアップロードし、効率的にアーカイブや分析を行うことができます。

3. 柔軟なパラメータ調整: 高電圧テストの分圧比は自由に設定可能です。-楕円スキャンのタイムベース、アンプの帯域幅、ゲイン、タイムウィンドウなどの主要なパラメータはすべて、タッチスクリーン上のワンタッチコントロールで調整できるため、効率的な操作が保証されます。-

II.優れたパフォーマンス指標

1. 高い検出感度: 等価静電容量が変化する試験片の場合、不平衡回路の感度は 0.02 pC (0 ~ 25 ~ 100 pF の調整静電容量範囲に相当) に達します。平衡回路の感度は同期して適応するため、微弱な部分放電信号を正確に捕捉できます。

2. 広範な測定範囲: 6 pF ~ 250 μF の等価静電容量と 0.1 pC ~ 10,000 nC の放電測定を備えた試験片をカバーし、さまざまな電力機器やコンポーネントの試験要件を満たします。

3. 強力な干渉防止機能: 9 つの周波数帯域の組み合わせを備え、アンプの 3dB 低周波端 (10、20、40kHz) と高周波端 (80、200、300kHz) を自由に選択できます。-タイム ウィンドウ機能 (ウィンドウ幅は 5 度から 170 度まで調整可能、デュアル ウィンドウは個別または同時にアクティブ化可能) と組み合わせることで、固定位相干渉を効果的に回避します。-。干渉耐性をさらに最適化するために、楕円スキャン タイム ベース回転 (30 度単位、最大 120 度回転) をサポートします。

4. 信頼性の高い測定精度:パルスピーク表示誤差はわずか±3%(フルスケール時)、試験電圧表示誤差は±1%、試験周波数表示誤差は±1%未満です。ゼロ校正システムはすべての楕円スキャン周波数にわたって一貫性を保ち、正確で信頼性の高いテストデータを保証します。

Ⅲ.広範な機能適応性

1. 豊富なスキャンおよび表示機能: 楕円スキャン タイム ベースは複数の周波数 (50/60、100、150、200、400 Hz) をサポートし、動作モードは楕円、正弦波、線形波形をカバーし、テスト シナリオ全体にわたる多様な波形観察要件に対応します。タッチスクリーンには、PD 波形、PD 値、テスト電圧、テスト周波数などの主要なパラメータが明確に表示されます。吐出量表示は大きさに応じて1桁または2桁の10進表示が自動的に切り替わり、視認性が向上します。

2. 高い入力ユニット適応性 12 の調整可能な容量範囲と 1 つの抵抗入力ユニットを備えた入力ユニットを搭載し、電流実効値 30mA ~ 50A (不平衡回路)、0.25A ~ 300A (平衡回路) に対応します。この柔軟性により、さまざまな静電容量と定格電流を持つ試験片の試験が可能になります。

3. 多様な応用シナリオ: 校正パルス発生器および入力ユニットと併用すると、電力会社、製造工場、研究機関に広く適用できます。変圧器、コンデンサ、ケーブル、その他の電力機器の部分放電試験要件を満たし、50Hz および 50Hz を超える周波数での試験をサポートします。

IV.実践的な構造設計

1. コンパクトでポータブル:370mm(W)×460mm(D)×215mm(H)のデスクトップ標準筐体を備え、重量は約12.5kgです。従来の機器と比較して設置面積が小さいため、移動性と現場でのテストが容易になります。{6}}

2. 直感的なインターフェイスレイアウト: フロントパネルには、タッチスクリーン、電源スイッチ、部分放電入力端子などの主要コンポーネントが収納されています。背面パネルには接地ボルト、RS232 ポート、および外部電源入力が備わっており、便利な配線、信頼性の高い接地、および強化されたテストの安全性が確保されています。

 

保護の詳細

 

この装置は、変圧器、コンデンサ、ケーブルなどの電力機器の部分放電検出および試験に使用され、メーカー、研究機関、電力会社に適しています。

 

会社の資格

 

 

よくある質問

1) MEJFD-W1S 部分放電試験器は、従来の機器と比較して動作時にどのような改善点がありますか?

回答: MEJFD-1S 部分放電テスターは、物理ノブ操作モードを備えた従来のブラウン管を廃止します。操作には 10.1- インチの静電容量式タッチスクリーンを採用しており、インターフェースがより直感的で操作がより柔軟になり、学習曲線が短縮されるだけでなく、操作寿命も延長されます。さらに、ワンタッチ自動校正や高電圧テストの分圧比設定などのインテリジェントな機能をサポートする 32- ビットの高性能マイクロコントローラ回路が組み込まれており、操作の利便性が大幅に向上しています。

2)MEJFD-W1S 部分放電試験器は、試験中の動作の安全性をどのように確保しますか?

回答: この機器には複数の安全設計が組み込まれています。まず、機器が高電圧下で動作することをユーザーに明確に警告し、設置および使用前にマニュアルを注意深く読むことをお勧めします。次に、専用の接地ボルトが付属しています。テスト中、このボルトは太い銅線 (または編組銅テープ) を使用してテストサイトの接地線にしっかりと接続する必要があります。入力ユニットの接地用ショートプレートも確実に接地する必要があります。第三に、校正後、試験電圧を印加する前に、校正パルス発生器と試験片の間の接続ケーブルを外します。これにより、高電圧による校正パルス発生器の損傷が防止され、潜在的な安全上の問題が排除されます。

3) MEJFD-W1S 部分放電試験器を使用した試験中に干渉を抑制するにはどうすればよいですか?

回答: 干渉は複数の方法で抑制できます。まず、機器に組み込まれたタイム ウィンドウ関数を利用してウィンドウの幅と位置を調整し、固定位相の干渉を回避します。-次に、より狭い帯域を使用するか、干渉の多い周波数範囲を避けて、適切なアンプ帯域幅を選択します。第三に、干渉を減らすために平衡テスト回路またはブリッジテスト回路を採用します。第 4 に、シールド ルームの設置、高電圧フィルタの使用、高電圧端子へのシールド カバーの取り付け、テスト回路の信頼性の高い単一点接地の確保、浮遊金属物体からの距離の確保などの外部保護措置を実装します。-

 

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